Применение статистических методов и алгоритмов машинного обучения для управления многопараметрическим технологическим процессом

Сидоров А.В., Низаметдинов А.М., Сухов С.В. Применение статистических методов и алгоритмов машинного обучения для управления многопараметрическим технологическим процессом. In: 25-я Всероссийская молодежная научная конференция "Актуальные проблемы физической и функциональной электроники", 24-26 октября 2023 г., г.Ульяновск

Полный текст не доступен из этого репозитория.

Тип объекта:	Доклад на конференции или семинаре (Доклад)
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl):	УФ-1 лаб. световолоконной техники и оптических измерений
URI:	http://cplire.ru:8080/id/eprint/10089

Только для зарегистрированных пользователей

Изменить объект