Гавриков А.А., Ходаков А.М., Смирнов В.И. Измерение температуры перегрева кристалла транзисторного модуля. In: 26-я Всероссийская молодежная научная конференция «Актуальные проблемы физической и функциональной электроники», 24-26 октября 2023 г., г.Ульяновск , С. 21-23.
Полный текст не доступен из этого репозитория.| Тип объекта: | Доклад на конференции или семинаре (Доклад) |
|---|---|
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | УФ-2 лаб. твердотельной электроники, опто- и наноэлектроники |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/10070 |
 |
Изменить объект |
