Моделирование теплоэлектрических процессов в мощном МОП СВЧ транзисторе с дефектом структуры

Сергеев В.А., Ходаков А.М., Куликов А.А. Моделирование теплоэлектрических процессов в мощном МОП СВЧ транзисторе с дефектом структуры. In: VI Международная конференция и молодёжная школа «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2020) , С. 126-132.

Полный текст не доступен из этого репозитория.
Тип объекта: Доклад на конференции или семинаре (Доклад)
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): УФ-2 лаб. твердотельной электроники, опто- и наноэлектроники
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/10059
Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект